Suzhou Flingman Precision Instrument Co., Ltd. >> Atomic Force Microscope

Atomic Force Microscope

Atomic Force Microscope
Supplier: Suzhou Flingman Precision Instrument Co., Ltd.
Price: US $ 14000/Piece
Min Order: 1/Piece
Quantity::
Trade Terms: FOB
contact supplier

Product Specifications

Prod Model: FM-Nanoview 6600 AFM
Markets: North America,South America,Eastern Europe,Southeast Asia,Africa,Oceania,Mid East,Eastern Asia,Western Europe

Product Description

I. AFM Features 
1. All-in-one design, smart structure and shape.
2. Scan head and sample stage are designed together, strong anti-vibration performance .
3. Precision laser detection and probe alignment device make laser adjustment simple and easy.
4. Adapt servomotor to drive the sample approaching tip manually or automatically, to realize precision scanning area positioning.
5. High-accuracy and large range sample transfer device allow to scan any interesting area of sample ;
6. Different types of scanner meets different customer's requirements in accuracy and scan size;
7. optical observation system for tip check and sample positioning.
8. Use servomotor to adjust optical system focus and magnification;
9. Electronic system is designed as modular and easy for maintenance and development.
10. Integrated with many working modes control electronics for further development.
II. User-friendly software and functions
1. Multi-channels images are capture and display synchronous, observe profile map in real time.
2. Obtain and measure many curves such as F-Z, f-RMS, RMS-Z
3. Execute scan area move and cut function, choose any interesting area of sample.
4. Scan sample in random angle at beginning.
5. Adjust the laser spot detection system in real time. 
6. Search the resonance frequency of tip manually or automatically.
7. Choose and set different color of scanning image in palette.
8. Support linear average and offset calibration in real time for sample title.
9. Support scanner sensitivity calibration and electronic controller auto-calibration.
III. Main technical parameters
ItemTechnical dataItemTechnical data
Operation modesContact mode, Tapping modeScan angle0~360 °
Sample sizeΦ≤80 mm;H≤20 mmSample movement0~20 mm
Max. scan rangeX/Y: 50 um, Z: 5 umPulse width of approaching  motor10±2 ms
ResolutionX/Y: 0.2 nm, Z: 0.05nmMagnification of CCDOptical magnification: 0.6~5X, Electronic magnification: 40X
Scan rate0.6 Hz~4.34 HzData points256×256,512×512
Scanning controlXY: 18-bit D/A, Z: 16-bit D/AFeedback typeDSP digital feedback
Data samplingOne 14-bit A/D and double 16-bit A/D multiple-channel simultaneously Feedback sampling rate64.0KHz
Weight/Size40KG,700*480*450mmPC connectionUSB2.0
WindowsCompatible with Windows98/2000/XP/7/8

Each one of our technical staff has been engaged in this field for many years. From the productions of microscope to the design and OEM instruments, We have confidence to offer you high quality products and competitive prices. Besides, we accept custom-made products if you offer drawing and specification detailed. For more information about our products, please browse our website: Www.Fsm-sz.COM

Send your message to this manufacturer

  • Inquiry about Atomic Force Microscope

Other Products From This Manufacturer